當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 晶圓缺陷檢測(cè) > 雙2D AOI系統(tǒng)
產(chǎn)品分類
Product Category
iFocus是一款用于晶圓外觀缺陷檢測(cè)設(shè)備，利用STI的2D/3D視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)，采用雙2D Camera同時(shí)采集亮區(qū)和暗區(qū)照片分析特征缺陷；True 3D技術(shù)，可以精確量測(cè)Bumping高度，Bumping共面性等特征?？蛇m用于EWLB/CMOS/MEMS/LED/LENS/GLASS WAFER/GAS WAFER/COG等產(chǎn)品外觀檢測(cè)。
更新時(shí)間：2024-11-09
型號(hào)：
廠商性質(zhì)：代理商
瀏覽量：2044